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        首页 > 测量系统 > 射频测量 > 智能化测量 > 伺服传感器自动化测量系统

        产品概述

        伺服传感器自动化测量系统主要由上料机构、常温测试机构、高低温测试机构等组成。

        主要用于混合集成电路伺服系列电路自动测试,实现伺服系列电路的全参数自动测试及数据存储、计算、分析管理等功能,提高伺服系列电路测试效率及产能,降低人工成本,提高经济效益。

        产品特点

        • 集成化高
        • 高效
        • 操作便捷

        产品功能

        • 产品正反面信息识别、绑定
        • 端口测试
        • 常温测试
        • 高低温测试

        典型指标

        • 信息识别时间<6s,准确率≥98%
        • 测试效率≥200件
        • 测试机构运动精度≤±0.05mm
        • 温箱满足温控范围-70℃~150℃
        • 温差≤±2℃@(-70℃~100℃)
        • 温差≤±4℃@(100℃~150℃)
        • 温度均匀性≤±2℃;波动度≤±0.5℃
        • 升温时间20℃~150℃≤30min,降温时间20℃~70℃≤50min
        • 满足试验标准GB/T1-2001
           

        应用

        电路板、传感器等小型电子元器件性能测试

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            品牌简介

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