产品概述
霍莱沃依据应用场景、测试需求及场地实况为客户提供定制化的一体化紧缩场测量系统。一体化紧缩场测量系统利用集成在小暗箱内的反射面将球面波在近距离转换成平面波，为待测相控阵产品测试提供一个性能优良的平面波照射环境。该系统可提供在1GHz至40GHz（110GHz）频率范围内的高质量的RCS测试结果。
功能特点
- 幅度方向图和相位方向图测试
- 波束指向、零深、副瓣、增益、轴比、相位中心测试
- EIRP及G/T值测试
- 连续波和脉冲测试
- 天线收、发状态测试
- 多通道、多频点、多波位同时测试
- 实时控制功能，提高测试速度
典型指标
- 幅度锥削：≤1dB
- 幅度波纹：±0.5dB
- 相位变化：±8°
- 交叉极化：≤30dB（静区中心）
- 动态范围：≥60dB
- 增益测量精度：±0.25dB
- 副瓣电平测量精度：
-10dB副瓣时±0.5dB
-20dB副瓣时±1dB
-30dB副瓣时±1.5dB
频率范围
- 1~40GHz（110GHz）
待测物的最大尺寸
- 小型：0.1~0.3m
- 中型：0.3~0.6m
- 大型：0.6~1m
- 定制
沪公网安备 31011502019272号